Quality First
Innovation Oriented
Continual Improvement
Exceed Customer Expectation
上海南芯半导体科技股份有限公司及其子公司等分支机构，将每个产品的产品状态分为“预售期”、“正在供货”、“不推荐用于新项目 (NRND)”、“最后下单日期”或“已停产”。
预售期：该产品的实验产品可供出售，但尚未量产。正式量产前，该产品在工程验证流程中可能会有变更。
正在供货：该产品已上市，且可供购买。可提供某些产品的较新替代品。
不推荐用于新项目：为支持现有客户，该产品仍然在生产中。但是处于生命周期后期，南芯对此产品不提供或仅提供有限的设计支持。
最后下单日期：客户在产品完全停产前最后一次购买的日期。
已停产：该产品不再生产。
上海南芯半导体科技股份有限公司及其子公司等分支机构（下称“南芯”）秉持着诚信正直，质量为基，期待成为您信赖的合作伙伴。我们在此承诺，南芯生产及销售的产品标准货架有效期为两年。其中，2a - 5a 产品的货架期，自防潮袋包装起至打开止，需保证防潮袋完好、湿敏卡未变色。
包装日期为标签D/C栏位，产品货架期计算方法为D/C加两年。如图所示，D/C为2106，代表生产日期为2021年第6周，货架期至2023年第6周。
上海南芯半导体科技股份有限公司及其子公司等分支机构（下称“南芯”）
产品变更通知（PCN）
南芯参考行业标准J-STD-046、ZVEI，会告知客户影响外观、适配性、功能，或对产品质量、可靠性产生不利影响的变更。
南芯PCN包含但不限于以下信息：
● PCN编号
● 变更原因
● 变更内容
● 样品供应日期
● 受影响的产品
● 产品变更标识
● 对外观、适配性、功能、质量 & 可靠性的预期（积极/消极）影响
● 验证计划/结果
● 预计生产发货日期
● 南芯联系人
南芯保留在产品外观、适配性、功能、质量和可靠性不受影响时，在不预先通知的情况下做出变更的权利。若客户对PCN有任何需求（查询附加数据或获取样品），需自南芯PCN发布之日起30天内予以反馈，否则视为接受此变更。
产品停产通知（PDN）
南芯的产品终止流程（EOL）参考 J-STD-048 标准。南芯会努力避免出于方便而停产产品。
自产品停产通知发布之日起，南芯会为客户预留6个月的最后下单时间（Last Time Buy），并预留12个月的最后交货时间（Last Time Ship）。针对车规产品，南芯会为客户预留12个月的最后下单时间（Last Time Buy），并预留18个月的最后交货时间（Last Time Ship）。
南芯PDN包含但不限于以下信息：
● PDN编号
● 停产原因
● 最后下单日期
● 最后交货日期
● 受影响的产品
● 替换产品（如适用）
● 南芯联系人
为降低假冒产品的风险，我们强烈建议客户仅通过上海南芯半导体科技股份有限公司及其子公司等分支机构（下称“南芯”）直接销售渠道或授权经销商采购半导体产品。
关键风险提示：
假冒产品的外观包装和标识可能与南芯正品几乎完全相同。但这些假冒产品的制造工艺、包装规格、器件标识规范、存储条件或物流管控等方面不符合南芯标准，因此会带来很大的性能、安全和可靠性风险。
通过非授权渠道（包括代理商、独立销售商或在线市场/“灰色市场”）购买的半导体产品将被视为：
● 假冒或不可靠产品
● 不享受南芯的质量保证
● 不提供保修服务
● 无法享受客户支持
上海南芯半导体科技股份有限公司及其子公司等分支机构（下称“南芯”）的技术和可靠性数据（包括规格书）、设计资料（包括参考设计、软件）、应用或其他设计建议和其他资料（下称“资料”），南芯均“按现状”提供而不保证无瑕疵。
资料的目标用户应为技术熟练的开发人员，供其使用SOUTHCHIP的产品进行设计。南芯可能会向客户提供技术支持或设计服务，但对此不承担任何的质量或质保责任。下列情形应由客户独立承担责任：(1)挑选和使用合适的南芯产品用于您的应用，(2)设计、验证和测试您的应用，以及(3)确保您的应用符合适用的标准、其他安全、安保要求及任何其它要求。客户因使用相应的资料而引起的任何索赔、损害、费用、损失、责任，南芯不承担任何责任。
南芯的样品均为“按现状”提供，且仅能用于设计、验证和测试之目的。南芯可能随时对南芯的资料和本声明进行更改、更正、增强、修改和改进，建议客户在下订单前在南芯官网/授权经销商处确认最新信息。客户在设计、量产、使用或分销其含有南芯产品的任何产品前，应获取南芯产品的相关信息，还应对该等产品进行全面和充分的测试，以评估产品是否达到量产、质量或安全之目的。客户的产品设计，应符合安全冗余设计，实现零部件可追溯性、可维修性，以在零部件不良或故障时可追溯到具体批次并进行维修/替换零部件，避免损失扩大。如未遵守南芯的建议，或未采用安全设计，使用南芯产品的风险将完全由客户自行承担，但所适用的法律和法规就产品责任的限制另有规定的除外。
客户应从授权经销商购买南芯产品，非授权渠道获取的产品可能为假冒产品，存在质量风险。南芯不对非授权渠道购买的产品提供客户支持或质量服务，所有风险客户应自行承担。
可靠性测试是验证产品长久卓越性能的关键所在
我们承诺为客户提供值得信赖的产品。每一款芯片均通过各种极端环境下严苛测试和验证，具有优越的性能和持久的可靠性。
测试结果准确
数据分析完备
性能稳定可靠
确保每一颗芯片在极端环境下性能可靠
浴盆曲线是一种表现产品故障率与相对时间或周期的关系图，显示了产品三种不同阶段产品寿命：早期失效期，固有或使用寿命期，损耗期。
早期失效期和固有/使用寿命期多数是由制造工艺中引入的缺陷引起的。许多器件的缺陷可通过有效的可靠性筛选方式进行消除。
早期失效期(Early failure stage)：该阶段产品会从初始使用的周期内由高失效率状态迅速降低。这一阶段失效的原因大多是由于设计、原材料和制造过程中的缺陷造成的。固有或使用寿命期(Random failure stage)： 处于一种低失效或者较为稳固的间隔失效状态，可使用MTBF(平均间隔故障时间)来表征这一状态。损耗期(Wear-out failure stage)：该阶段产品故障率会增加。通常由老化、器件能力退化等因素造成。早期失效率是指在在组装电路板、系统组装工艺或者客户端最初使用周期中由缺陷所有引起的器件故障
ELFR (in FIT) = 109 × λ = 109 × χ2 c,d /(2 × A × N × tA )
A = 早期失效率加速因子，通常来自于温度和电压因素
N = 老化实验样本量
tA = 指定时间内的加速时间
χ2 = 卡方分布
c = 置信等级
d = 自由基
FIT:Failure in time 设备故障率，可表述为109个小时器件发生的故障数。例如1 fit 可理解100万颗器件运行1000小时发生1次故障或者1000颗器件运行100万小时发生1次故障。
通用早期失效率方程式进行模拟计算。计算依据于有效的可靠性实验数据进行。
南芯作为一家对社会负责任的企业，完全致力于保护环境，提供环保安全的绿色产品。我们承诺遵守法律法规、国际条例以及签署的其他规章和适用的行业标准与国际公约，并及时通过高效的方式为客户提供产品材料化学成分信息、RoHS测试报告、REACH SVHC合规声明等信息。 目前我司产品符合RoHS，无卤，REACH和无铅等相关法规要求。如需了解更多信息，请联系我们。
南芯在合规的产品包装上使用标签和符号。
